LEEM-3 Aparat za mapiranje električnog polja

Kratki opis:

U inženjerskoj tehnologiji često je potrebno poznavati distribuciju električnog polja elektrodnog sistema kako bi se proučavao zakon kretanja elektrona ili nabijenih čestica u električnom polju.Na primjer, da bi se proučavalo fokusiranje i otklon elektronskog snopa u cijevi osciloskopa, potrebno je poznavati raspodjelu električnog polja elektrode u cijevi osciloskopa.U elektronskoj cijevi trebamo proučavati utjecaj uvođenja novih elektroda na kretanje elektrona, a moramo znati i raspodjelu električnog polja.Uopšteno govoreći, da bi se utvrdila distribucija električnog polja, može se koristiti analitička metoda i metoda simulacionog eksperimenta.Ali samo u nekoliko jednostavnih slučajeva raspodjela električnog polja može se dobiti analitičkom metodom.Za opći ili složeni sistem elektroda, obično se određuje simulacijskim eksperimentom.Nedostatak metode simulacionog eksperimenta je što preciznost nije visoka, ali za opći inženjerski dizajn može zadovoljiti zahtjeve.