Istaknuta slika eksperimentalnog elipsometra LCP-25

LCP-25 Eksperimentalni elipsometar

Kratak opis:

Ručni eliptični polarimetar koristi metodu ekstinkcije za mjerenje debljine i indeksa prelamanja filma, te ručno reguliše odstupanje i ugao odstupanja tokom procesa ispitivanja. Elipsometrija se široko koristi u mjerenju tankih dielektričnih filmova na čvrstoj podlozi. Ovom metodom mjerenja debljine filma, ona se može mjeriti sa najtanjom i najvećom preciznošću.

Pošaljite nam e-poštu

Detalji proizvoda

Oznake proizvoda

Specifikacije

Opis	Specifikacije
Raspon mjerenja debljine	1 nm ~ 300 nm
Raspon upadnog ugla	30º ~ 90º, greška ≤ 0,1º
Ugao presjeka polarizatora i analizatora	0º ~ 180º
Ugaona skala diska	2º po skali
Minimalno očitavanje Verniera	0,05º
Visina optičkog centra	152 mm
Prečnik radne platformi	Φ 50 mm
Ukupne dimenzije	730x230x290 mm
Težina	Otprilike 20 kg

Spisak dijelova

Opis	Količina
Elipsometarska jedinica	1
He-Ne laser	1
Fotoelektrični pojačavač	1
Foto ćelija	1
Silikatni film na silicijskoj podlozi	1
CD sa softverom za analizu	1
Uputstvo za upotrebu	1