Istaknuta slika eksperimentalnog elipsometra LCP-25

LCP-25 Eksperimentalni elipsometar

Kratki opis:

Ručni eliptični polarimetar koristi metodu ekstinkcije za mjerenje debljine i indeksa prelamanja filma, te ručno regulira devijaciju i ugao odstupanja testnog procesa.Elipsometrija se široko koristi u mjerenju dielektričnog tankog filma na čvrstoj podlozi.U metodi mjerenja debljine filma može se mjeriti do najtanje i najveće preciznosti.

Pošaljite nam email

Detalji o proizvodu

Oznake proizvoda

Specifikacije

Opis	Specifikacije
Opseg mjerenja debljine	1 nm ~ 300 nm
Raspon upadnog ugla	30º ~ 90º, greška ≤ 0,1º
Ugao preseka polarizatora i analizatora	0º ~ 180º
Ugaona skala diska	2º po skali
Min.Čitanje Verniera	0,05º
Visina optičkog centra	152 mm
Prečnik radne faze	Φ 50 mm
Ukupne dimenzije	730x230x290 mm
Težina	Otprilike 20 kg

Lista dijelova

Opis	Kol
Elipsometarska jedinica	1
He-Ne Laser	1
Fotoelektrično pojačalo	1
Photo Cell	1
Silika film na silikonskoj podlozi	1
CD sa softverom za analizu	1
Uputstvo za upotrebu	1