LEEM-3 Aparat za mapiranje električnog polja

Kratak opis:

U inženjerskoj tehnologiji često je potrebno znati raspodjelu električnog polja elektrodnog sistema kako bi se proučio zakon kretanja elektrona ili nabijenih čestica u električnom polju. Na primjer, da bi se proučilo fokusiranje i skretanje elektronskog snopa u osciloskopskoj cijevi, potrebno je znati raspodjelu električnog polja elektrode u osciloskopskoj cijevi. U elektronskoj cijevi potrebno je proučiti utjecaj uvođenja novih elektroda na kretanje elektrona, a također je potrebno znati raspodjelu električnog polja. Općenito govoreći, da bi se utvrdila raspodjela električnog polja, mogu se koristiti analitičke metode i metode simulacijskog eksperimenta. Ali samo u nekoliko jednostavnih slučajeva, raspodjela električnog polja može se dobiti analitičkom metodom. Za opći ili složeni elektrodni sistem, obično se određuje simulacijskim eksperimentom. Nedostatak metode simulacijskog eksperimenta je što preciznost nije visoka, ali za opći inženjerski dizajn može ispuniti zahtjeve.